| GB/T 25185-2010 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 19500-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| YS/T 644-2007 | 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量 | 现行 | 2007-04-13 | 2007-10-01 |
| SJ/T 10714-1996 | 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法 | 现行 | 1996-07-22 | 1996-11-01 |
| GB/T 25184-2010 | X射线光电子能谱仪检定方法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| T/CSTM 01199-2024 | 多层金属薄膜 层结构测量分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| GB/T 19500-2004 | X-射线光电子能谱分析方法通则 | 废止 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 43789.32-2024 | 电子纸显示器件 第3-2部分：光电性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-03-15 |
| GB/T 39585-2020 | 光电测量 配光测试系统的性能要求和检测方法 | 现行 | 2020-12-14 | 2021-07-01 |
| GB/T 45505.5-2025 | 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分：光电性能 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 46135.2-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46135.1-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46192.3-2025 | 液晶配向膜测试方法 第3部分：光电性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 42976-2023 | 纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |