Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-02-01 |
| JY/T 0006-2011 | 晶体管特性图示仪 | 现行 | 2013-07-11 | 2013-07-11 |
| GB/T 44802-2024 | 柔性直流输电用绝缘栅双极晶体管（IGBT）驱动器技术规范 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| JB/T 9495.2-1999 | 光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.6-1999 | 光学晶体光吸收系数测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 10789-2007 | 高压晶体炉 TDR-GY系列液封直拉法高压晶体炉 | 现行 | 2007-08-28 | 2008-02-01 |
| JB/T 8951.1-1999 | 绝缘栅双极型晶体管 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 6307.4-1992 | 电力半导体模块测试方法双极型晶体管臂和臂对 | 现行 | 1992-06-26 | 1993-01-01 |
| JB/T 9495.4-1999 | 光学晶体应力双折射测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 11375-2013 | 超微细晶体放映屏幕 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 6307.5-1994 | 电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥 | 现行 | 1994-12-09 | 1995-06-01 |
| JB/T 9495.5-1999 | 光学晶体散射颗粒度测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.7-1999 | 光学晶体光学均匀性测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| DB32/T 3594-2019 | 晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法 | 现行 | 2019-04-08 | 2019-04-30 |
| JB/T 8951.2-1999 | 绝缘栅双极型晶体管模块 臂和臂对 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 22319.9-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 12273.1-2017 | 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |