硅片翘曲度非接触式测试方法

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

GB/T 6620-2009推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-21
总页数:12页
格式:pdf

GB/T 6620-2009 相似标准 第8页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/CECA 42-2020接触式位移传感器通用规范现行2020-12-022020-12-15
T/NXJX 001-2020接触式葡萄清土机现行2020-12-032021-12-04
YY/T 0902-2013接触式远红外理疗设备现行2013-10-212014-10-01
MT/T 1065-2007煤矿用带式输送机接触式逆止器现行2008-11-192009-01-01
T/AHFIA 045-2020无接触式餐饮配送服务规范现行2020-03-202020-03-27
T/CECA 42-2020接触式位移传感器通用规范现行2020-12-022020-12-15
GB/T 47251.1-2026印刷电子设备 接触式印刷刚性印版 第1部分:印版外形尺寸测量方法即将实施2026-02-272026-06-01
GB/T 47251.2-2026印刷电子设备 接触式印刷刚性印版 第2部分:印版图案尺寸测量方法即将实施2026-02-272026-06-01
JJG 101-2004接触式干涉仪现行2004-09-212005-03-21
JJG 1141-2017接触式压平眼压计现行2017-09-262017-12-26
JR/T 0045.4-2014中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范现行2014-07-302014-07-30
JR/T 0045.5-2014中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第5部分:非接触终端检测规范现行2014-07-302014-07-30
GB/T 33523.603-2022产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性现行2022-12-302023-04-01
GB/T 33523.604-2022产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第604部分:非接触(相干扫描干涉)式仪器的标称特性现行2022-12-302023-04-01
GB/T 33523.605-2022产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第605部分:非接触(点自动对焦探针)式仪器的标称特性现行2022-12-302023-04-01
GB/T 33523.602-2022产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第602部分:非接触(共聚焦色差探针)式仪器的标称特性现行2022-12-302023-04-01
GB/T 33523.606-2022产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第606部分:非接触(变焦)式仪器的标称特性现行2022-12-302023-04-01
YD/T 3792-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)技术要求现行2020-12-092021-01-01