| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/WSJ 010-2020 | 公共取货点非接触配送服务通用技术规范 | 现行 | 2020-06-20 | 2020-06-25 |
| T/HSJ 020-2020 | 公共取货点非接触配送服务通用技术规范 | 现行 | 2020-03-31 | 2020-03-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| YD/T 2772-2014 | 手机支付 基于2.45GHz RCC（限域通信）技术的非接触射频接口技术要求 | 现行 | 2014-12-24 | 2014-12-24 |
| GB/T 22838.3-2025 | 卷烟和滤棒物理性能的测定 第3部分：圆周 非接触光学法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/WSJ 010-2020 | 公共取货点非接触配送服务通用技术规范 | 现行 | 2020-06-20 | 2020-06-25 |
| T/CSRME 025-2022 | 岩体结构面粗糙度非接触测量技术规程 | 现行 | 2022-08-06 | 2022-09-01 |
| JC/T 2115-2026 | 非接触感应给水器具 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 6621-2009 | 硅片表面平整度测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 13388-2009 | 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30869-2014 | 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |