Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
2009-10-30
2010-06-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
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| GB/T 24481-2009 | 3C产品用镁合金薄板 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| YS/T 1904-2026 | 再生硅片 | 即将实施 | 2026-08-18 | 2027-04-01 |
| T/SEPA 4-2022 | 局部放电EFPI光纤超声传感器探头MEMS制造技术 第1部分：基于SOI硅片的工艺规范 | 现行 | 2022-12-01 | 2023-02-01 |
| DB31/ 792-2014 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 | 有更新版 | 2014-04-15 | 2014-08-01 |