Test method for resistivity of semi-insulating monocrystalline silicon carbide by contactless measurement
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31838.3-2019 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第3部分：电阻特性(DC方法) 表面电阻和表面电阻率 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 31838.7-2021 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第7部分：电阻特性(DC方法) 高温下测量体积电阻和体积电阻率 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 31838.5-2021 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第5部分：电阻特性(DC方法) 浸渍和涂层材料的体积电阻和体积电阻率 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 1692-2008 | 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 | 现行 | 2008-04-01 | 2008-09-01 |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 1410-2006 | 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| GB/T 10581-2006 | 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| GB/T 41606-2022 | 钛酸钡基高抗电强度低电阻率热敏陶瓷 | 现行 | 2022-07-11 | 2023-02-01 |
| MT/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| DB/T 33.1-2009 | 地震地电观测方法 地电阻率观测 第1部分：单极距观测 | 现行 | 2009-02-09 | 2009-06-01 |
| DB/T 29.1-2008 | 地震观测仪器进网技术要求 地电观测仪 第1部分：直流地电阻率仪 | 现行 | 2008-08-11 | 2008-12-01 |
| DB/T 18.1-2006 | 地震台站建设规范 地电观测台站 第1部分：地电阻率台站 | 现行 | 2006-02-20 | 2006-05-01 |
| GB/T 3781.9-2025 | 乙炔炭黑 第9部分：电阻率的测定 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 16906-1997 | 石油罐导静电涂料电阻率测定法 | 现行 | 1997-07-02 | 1998-03-01 |