Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 539.10-2026 | 镍基合金粉化学分析方法 第10部分：痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| AQ 3065-2025 | 多晶硅安全生产规范 | 现行 | 2025-12-13 | 2026-11-01 |
| GB/T 10067.416-2019 | 电热和电磁处理装置基本技术条件 第416部分:多晶硅铸锭炉 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| GB/T 32652-2016 | 多晶硅铸锭石英坩埚用熔融石英料 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 24579-2009 | 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 38907-2020 | 节水型企业 多晶硅行业 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-01-01 |
| YS/T 1195-2017 | 多晶硅副产品 四氯化硅 | 现行 | 2017-07-07 | 2018-01-01 |
| JC/T 2349-2015 | 多晶硅生产用氮化硅陶瓷绝缘体 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| JC/T 2067-2011 | 太阳能多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| DB65/T 3486-2013 | 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法 | 废止 | 2013-10-20 | 2013-12-01 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-04-01 |
| DB65/T 3485-2013 | 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法 | 废止 | 2013-09-20 | 2013-12-01 |
| DB63/T 2467-2025 | 多晶硅制造装置基于风险的评价与检验技术规范 | 现行 | 2025-09-24 | 2025-11-01 |
| GB/T 29055-2019 | 太阳能电池用多晶硅片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 12963-2022 | 电子级多晶硅 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 24582-2023 | 多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 18916.47-2020 | 取水定额 第47部分：多晶硅生产 | 现行 | 2020-03-31 | 2020-10-01 |
| GB 29447-2022 | 多晶硅和锗单位产品能源消耗限额 | 现行 | 2022-12-29 | 2024-01-01 |