Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 899-2013 | 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 891-2013 | 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 896-2013 | 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 897-2013 | 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 923.2-2013 | 高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 901-2013 | 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 892-2013 | 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 900-2013 | 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 923.2-2024 | 高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 1814-2025 | 高纯五氧化二铌化学分析方法 痕量元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 1781.4-2025 | 高温形状记忆合金化学分析方法 第4部分：痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |
| YS/T 900-2024 | 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 901-2024 | 高纯钨化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 898-2024 | 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 892-2024 | 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 891-2024 | 高纯钛化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 896-2024 | 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 897-2024 | 高纯铌化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |