Testing method for contact resistance of precious metals electrical contact materials
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 40007-2021 | 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 31838.9-2026 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 15077-2008 | 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-09-01 |
| GB/T 38783-2020 | 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-05-01 |
| YS/T 1507-2021 | 贵金属材料 压缩蠕变试验方法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| YS/T 1501-2021 | 含铜贵金属材料氧化亚铜金相检验方法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| GB/T 16649.6-2001 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第6部分:行业间数据元 | 现行 | 2001-03-07 | 2001-10-01 |
| GB/T 16649.7-2000 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第7部分:用于结构化卡查询语言(SCQL)的行业间命令 | 现行 | 2000-10-17 | 2001-10-01 |
| GB/T 16649.8-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 16649.10-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 16649.1-2006 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | 现行 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| GB/T 17554.3-2006 | 识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备 | 现行 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| GB/T 22351.1-2008 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 | 现行 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 16649.12-2010 | 识别卡 集成电路卡 第12部分：带触点的卡-USB电气接口和操作规程 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-04-01 |
| GB/T 22351.2-2010 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-04-01 |
| GB/T 16649.5-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第5部分:应用标识符的国家编号体系和注册规程 | 现行 | 2002-05-08 | 2002-10-01 |
| JB/T 13751-2020 | 微电机用电刷及触点抗压强度试验方法 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 13752-2020 | 微电机用电刷及触点肖氏硬度试验方法 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |