Testing method for contact resistance of precious metals electrical contact materials
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 9860.1-1999 | 断电器用钨触点 技术条件 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 14598.4-1993 | 电气继电器 第十四部分:电气继电器触点的寿命试验 触点负载的优先值 | 废止 | 1993-09-05 | 1994-04-01 |
| GB/T 14598.5-1993 | 电气继电器 第十五部分:电气继电器触点的寿命试验 试验设备的特性规范 | 废止 | 1993-09-05 | 1994-04-01 |
| GB/T 16649.2-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 16649.3-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分:电信号和传输协议 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 16649.1-1996 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | 废止 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 17553.1-1998 | 识别卡 无触点集成电路卡 第1部分:物理特性 | 废止 | 1998-11-05 | 1999-06-01 |
| GB/T 17553.3-2000 | 识别卡 无触点集成电路卡 第3部分:电信号和复位规程 | 废止 | 2000-10-17 | 2001-10-01 |
| GB/T 17553.2-2000 | 识别卡 无触点集成电路卡 第2部分:耦合区域的尺寸和位置 | 废止 | 2000-10-17 | 2001-10-01 |
| GB/T 14598.1-2002 | 电气继电器 第23部分:触点性能 | 废止 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 16649.3-2006 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分:电信号和传输协议 | 废止 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| GB/T 16649.2-2006 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置 | 废止 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| GB/T 16608.54-2012 | 有或无机电继电器 第54部分：空白详细规范 电信用有质量评定的有或无机电继电器 两组转换触点，15mm×7.5mm底座 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 16608.53-2012 | 有或无机电继电器 第53部分：空白详细规范 电信用有质量评定的有或无机电继电器 两组转换触点，14mm×9mm底座 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 16608.52-2012 | 有或无机电继电器 第52部分：空白详细规范 电信用有质量评定的有或无机电继电器 两组转换触点，20mm×10mm底座 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 16608.55-2012 | 有或无机电继电器 第55部分：空白详细规范 电信用有质量评定的有或无机电继电器 两组转换触点，11mm×7.5mm(最大)底座 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| T/ZZB 0629-2018 | 继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| JB/T 14940-2025 | 突跳式温度敏感控制器用电气触点 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-11-01 |