Testing method for contact resistance of precious metals electrical contact materials
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4067-1999 | 金属材料电阻温度特征参数的测定 | 现行 | 1999-11-01 | 2000-08-01 |
| GB/T 3048.2-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第2部分：金属材料电阻率试验 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-01 |
| GB/T 13301-1991 | 金属材料电阻应变灵敏系数试验方法 | 现行 | 1991-12-13 | 1992-10-01 |
| GB/T 45788.1-2025 | 金属材料电阻焊质量要求 第1部分：完整质量要求 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| GB/T 45788.2-2025 | 金属材料电阻焊质量要求 第2部分：基本质量要求 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| GB/T 5167-2018 | 烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| HY/T 192-2015 | 海水环境中金属材料动电位极化电阻测试方法 | 现行 | 2015-07-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 5167-1985 | 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 | 废止 | 1985-05-08 | 1986-02-01 |
| GB/T 351-1995 | 金属材料电阻系数测量方法 | 废止 | 1995-04-11 | 1995-12-01 |
| GB/T 5095.2-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| JB/T 6954-2007 | 灰铸铁接触电阻加热淬火质量检验和评级 | 现行 | 2007-03-06 | 2007-09-01 |
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |