| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 41606-2022 | 钛酸钡基高抗电强度低电阻率热敏陶瓷 | 现行 | 2022-07-11 | 2023-02-01 |
| MT/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| DB/T 29.1-2008 | 地震观测仪器进网技术要求 地电观测仪 第1部分：直流地电阻率仪 | 现行 | 2008-08-11 | 2008-12-01 |
| DB/T 18.1-2006 | 地震台站建设规范 地电观测台站 第1部分：地电阻率台站 | 现行 | 2006-02-20 | 2006-05-01 |
| DL/T 2553-2022 | 电力接地系统土壤电阻率、接地阻抗和地表电位测量技术导则 | 现行 | 2022-11-04 | 2023-05-04 |
| SY/T 6844-2021 | 微电阻率成像测井仪 | 现行 | 2021-11-16 | 2022-02-16 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| DB/T 91-2022 | 直流地电阻率仪检测规范 | 现行 | 2022-12-29 | 2023-05-01 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 12703.4-2010 | 纺织品 静电性能的评定 第4部分：电阻率 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-06-01 |
| SY/T 6790-2010 | 过套管电阻率测井作业规范 | 现行 | 2010-08-27 | 2010-12-15 |
| SY/T 6689-2007 | 复电阻率法勘探技术规程 | 现行 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| SY/T 6972-2013 | 过套管电阻率测井仪 | 现行 | 2013-11-28 | 2014-04-01 |
| SY/T 5348-2012 | 钻井液电阻率仪 | 现行 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| DZ/T 0072-1993 | 电阻率测深法技术规程 | 现行 | 1993-05-18 | 1994-01-01 |
| DZ/T 0073-1993 | 电阻率剖面法技术规程 | 现行 | 1993-05-18 | 1994-01-01 |