半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

GB/T 6798-1996推荐性国家标准

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GB/T 6798-1996 相似标准 第5页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 10257-1991半导体集成电路CD3220CP带ALC双前置放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
SJ/T 10307-1992半导体集成电路陶瓷熔封扁平外壳详细规范现行1992-06-151992-12-01
SJ/T 10072-1991半导体集成电路CE8602型500MHZ÷2分频器详细规范现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10042-1991半导体集成电路CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10741-2000半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理现行2000-12-282001-03-01
SJ/T 10263-1991半导体集成电路CD7666GP双五点LED电平显示驱动器详细规范现行1991-11-121992-01-01
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SJ/T 10176-1991半导体集成电路金属菱形外壳详细规范现行1991-05-281991-12-01
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SJ/T 10607-1994半导体集成电路门阵列设计总则现行1994-10-111995-04-01
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SJ/T 10041-1991半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10266-1991半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
SJ/T 10038-1991半导体集成电路CMOS4000系列运算器现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10073-1991半导体集成电路CW7915型三端负稳压器(可供认证用)现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10270-1991半导体集成电路CF3080型跨导运算放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
SJ/T 10308-1992半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范现行1992-06-151992-12-01
SJ/T 10048-1991半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器现行1991-04-081991-07-01