现行
1991-11-12
1992-01-01
SJ/T 10266-1991
电子工业部
制定
无
电子
行业标准
2355-1992
2014-12-26
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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| GB/T 17554.3-2006 | 识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备 | 现行 | 2006-03-14 | 2006-07-01 |
| SJ/T 10076-1991 | 半导体集成电路CJ710型电压比较器 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 18349-2001 | 集成电路/计算机硬件描述语言Verilog | 现行 | 2001-04-09 | 2001-10-01 |
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| GB/T 44924-2024 | 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 | 现行 | 2024-12-31 | 2025-04-01 |
| GB/T 16649.7-2000 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第7部分:用于结构化卡查询语言(SCQL)的行业间命令 | 现行 | 2000-10-17 | 2001-10-01 |
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| GB/T 14115-1993 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| SJ/T 10262-1991 | 半导体集成电路CD7640GP调频/调幅中频放大器详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
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| GB/T 17574.20-2006 | 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范 | 现行 | 2006-12-05 | 2007-05-01 |
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