| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| XB/T 526-2026 | 红外光学镀膜用稀土氟化物 | 即将实施 | 2026-11-01 | 相似 |
| T/SHXCL 0006-2021 | 特种光学材料用氟化物 | 现行 | 2021-06-15 | —— |
| GB/T 31860-2015 | 镀膜用氟化镁 | 现行 | 2016-02-01 | 相似 |
| GB/T 12690.4-2021 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第4部分：氧、氮量的测定 脉冲-红外吸收法和脉冲-热导法 | 现行 | 2022-05-01 | 相似 |
| GB/T 12690.1-2022 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第1部分：碳、硫量的测定 高频-红外吸收法 | 现行 | 2023-07-01 | 相似 |
| GB/T 12690.4-2003 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 氧、氮量的测定 脉冲-红外吸收法和脉冲-热导法 | 废止 | 2004-06-01 | 相似 |
| GB/T 12690.1-2015 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第1部分：碳、硫量的测定 高频-红外吸收法 | 废止 | 2016-04-01 | 相似 |
| JB/T 5588-1991 | 光学零件镀膜导电膜 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |
| JB/T 8226.4-1999 | 光学零件镀膜 内反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.6-1999 | 光学零件镀膜 窄带干涉滤光膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.3-1999 | 光学零件镀膜 外反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.8-1999 | 光学零件镀膜 截止滤光膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 5589-1991 | 光学零件镀膜高反射膜 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |
| JB/T 5474-1991 | 光学零件镀膜 偏振膜 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |
| JB/T 8226.5-1999 | 光学零件镀膜 中性滤光膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.2-1999 | 光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.1-1999 | 光学零件镀膜 减反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.7-1999 | 光学零件镀膜 分束膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |