JB/T 8226.3-1999 相似标准 第1页
更新时间 2026-10-27| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 8226.3-1999 | 光学零件镀膜外反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.3-1995 | 光学零件镀膜外反射膜 | 废止 | 1996-04-14 | 相似 |
| JB/T 8226.4-1999 | 光学零件镀膜 内反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 5589-1991 | 光学零件镀膜高反射膜 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |
| JB/T 8226.2-1999 | 光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.1-1999 | 光学零件镀膜 减反射膜 | 现行 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8226.2-1995 | 光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜 | 废止 | 1996-04-14 | 相似 |
| JB/T 8226.1-1995 | 光学零件镀膜 减反射膜 | 废止 | 1996-04-14 | 相似 |
| JB/T 8226.4-1995 | 光学零件镀膜 内反射膜 | 废止 | 1996-04-14 | 相似 |
| JB/T 8227-1995 | 光学零件上真空镀铝后阳极氧化加固的外反光膜 | 现行 | 1996-04-14 | 相似 |
| NY/T 1423-2007 | 鱼粉和反刍动物精料补充料中肉骨粉快速定性检测近红外反射光谱法 | 现行 | 2007-09-01 | 相似 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| GB/T 14847-2010 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 | 废止 | 2011-10-01 | 相似 |
| GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 即将实施 | 2026-05-01 | 相似 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法（外文版EN） | 现行 | 相似 | |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| JB/T 5588-1991 | 光学零件镀膜导电膜 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |