Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method
即将实施
2025-10-31
2026-05-01
GB/T 14847-2025
国家标准委
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 46481-2025 | 混合动力电动汽车及多电机纯电动汽车动力系统功率测试方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |