Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method
2025-10-31
2026-05-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 46481-2025 | 混合动力电动汽车及多电机纯电动汽车动力系统功率测试方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| JC/T 3044-2026 | 金刚石膜中硼掺杂含量的测定 二次离子质谱法 | 即将实施 | 2026-06-01 | 2026-12-01 |
| YS/T 1828-2025 | 半导体材料掺杂用扩散膜 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| T/CSTM 00036-2020 | 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| T/CSTM 00035-2020 | 铈掺杂硅酸钇闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| T/CSTM 00032-2020 | 铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |