Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method
即将实施
2025-10-31
2026-05-01
GB/T 14847-2025
国家标准委
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00036-2020 | 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| GB/T 14847-2010 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| YS/T 1520-2022 | 掺杂型镍钴锰酸锂 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| T/CSTM 00032-2020 | 铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| YS/T 1614-2023 | 掺杂包覆型镍钴铝酸锂 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1441-2021 | 掺杂型四氧化三钴 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| T/CSTM 00035-2020 | 铈掺杂硅酸钇闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| GB/T 46481-2025 | 混合动力电动汽车及多电机纯电动汽车动力系统功率测试方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |