主要技术内容
本标准规定了铈掺杂硅酸钇闪烁晶体的术语和定义、技术要求、检验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存等。本标准主要适用于在高能物理量能器、核医学成像、安全稽查、工业无损探测领域作为探测材料使用的铈掺杂硅酸钇闪烁晶体产品,其它核辐射探测领域使用的铈掺杂硅酸钇闪烁晶体产品也可参照使用。
Cerium-doped yttrium oxyorthosilicate scintillation crystal
现行
2020-08-03
2020-11-03
T/CSTM 00035-2020
中关村材料试验技术联盟
否
Q 65
27.120.01 核能综合
C398 电子元件及电子专用材料制造
团体标准
本标准规定了铈掺杂硅酸钇闪烁晶体的术语和定义、技术要求、检验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存等。本标准主要适用于在高能物理量能器、核医学成像、安全稽查、工业无损探测领域作为探测材料使用的铈掺杂硅酸钇闪烁晶体产品,其它核辐射探测领域使用的铈掺杂硅酸钇闪烁晶体产品也可参照使用。
中国科学院上海硅酸盐研究所、西北核技术研究所、中国计量大学、上海硅酸盐研究所中试基地、南开大学、华中科技大学、东软医疗系统股份有限公司、明峰医疗系统股份有限公司、同济大学、南京光宝光电科技有限公司、南京航空航天大学、上海骋翰光学精密机械有限公司、中国电子科技集团第26研究所、中国科学院长春应用化学研究所、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
丁栋舟、段宝军、施俊杰、陈露、万博、赵书文、魏钦华、秦来顺、史宏声、袁兰英、侯伟、杨帆、谢庆国、肖鹏、梁国栋、江浩川、秦海明、刘波、袁晖、曹顿华、赫崇君、吴永庆、李铮、王东、佘建军、丁雨憧、王佳、薛冬峰、孙丛婷、李建德
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00036-2020 | 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 14847-2010 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| T/CSTM 00036-2020 | 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| T/CSTM 00034-2020 | 硫酸钡基反射层 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |