NB/SH/T 6100-2026 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-24
标准号标准名称状态实施日期相似标准
T/QGCML 1536-2023电子设备用相变储能膜现行2023-10-10——
T/CIE 155-2023非易失性相变存储器电性能测试方法现行2023-03-20——
T/ZJBDT 001.4-2025新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第4部分:阻变存储芯片测试现行2025-01-10——
T/ZJBDT 001.3-2025新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第3部分:相变存储芯片测试现行2025-01-10——
T/ZJBDT 001.2-2025新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第2部分:磁随机存储芯片测试现行2025-01-10——
T/ZJBDT 001.1-2025新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第1部分:总则现行2025-01-10——
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T/CISA 188-2021耐火材料 比热容试验方法 (差示扫描量热法)现行2022-03-01——
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GB/T 19466.2-2004塑料 差示扫描量热法(DSC) 第2部分:玻璃化转变温度的测定废止2004-12-01找相似
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GB/T 16404.2-1999声学 声强法测定噪声源的声功率级 第2部分:扫描测量现行1999-09-01找相似