Quartz crystal units of assessed quality—Part 6: Crystal units with thermistors
即将实施
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16517-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分:分规范 鉴定批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 16516-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1996-05-01 |
| GB/T 12273.501-2012 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 12273.1-2017 | 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 12273-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 | 废止 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 22319.8-2008 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| GB/T 22319.6-2023 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-02-01 |
| GB/T 22319.9-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| SJ/T 11210-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 10708-1996 | 石英晶体元件-IECQ规范 第3部分:分规范-鉴定批准 第一篇:空白详细规范 | 现行 | 1996-07-22 | 1996-11-01 |
| SJ/T 10707-1996 | 石英晶体元件-IECQ规范 第2部分:分规范-能力批准 第一篇:空白详细规范 | 现行 | 1996-07-22 | 1996-11-01 |
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11212-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| GB/T 22319.8-2025 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| SJ/T 10639-1995 | 石英晶体元件术语 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 10015-2013 | 10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值 | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |