| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 30241.2-2013 | 齐纳二极管安全栅 第2部分：性能评定方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 7624-2013 | 整流二极管测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| GB/T 20871.63-2021 | 有机发光二极管显示器件 第6-3部分：图像质量测试方法 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 20871.62-2025 | 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法 视觉质量和亮室性能 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11818.1-2022 | 半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| GB/T 39771.2-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 38621-2020 | 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| DB35/T 2107-2022 | 紫外发光二极管测评方法 | 现行 | 2022-12-27 | 2023-03-27 |
| GB/T 33762-2017 | 有机发光二极管（OLED）电视机显示性能测量方法 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| T/CSA 047-2019 | 发光二极管热阻抗测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |
| T/HBAI 001-2024 | 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 | 现行 | 2024-10-17 | 2024-10-25 |
| SJ/T 11461.5.1-2013 | 有机发光二极管显示器 第5-1部分：环境试验方法 | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 2658.6-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.5-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11471-2014 | 发光二极管外延片测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 2658.10-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |