Optical circuit boards—Part 2: Basic test and measurement procedures—General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| HG/T 4608-2014 | 光学功能薄膜 颜色的测量方法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 |
| GB/T 34879-2017 | 产品几何技术规范（GPS） 光学共焦显微镜计量特性及测量不确定度评定导则 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| DB61/T 1686-2023 | 户外LED显示屏光学参数测量技术规范 | 现行 | 2023-05-25 | 2023-06-25 |
| GB/T 44605-2024 | 激光器和激光相关设备 激光光学元件吸收分布测量 光热成像法 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| GB/T 34893-2017 | 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 39865-2021 | 单轴晶光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 41070-2021 | 裸眼3D柱透镜光栅膜 光学测量方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 34894-2017 | 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 34900-2017 | 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 42219-2022 | 大功率LED的光学测量 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| DB61/T 1687-2023 | 手机显示屏光学参数测量技术规范 | 废止 | 2023-05-25 | 2023-06-25 |
| GB/T 44078-2024 | 光电系统中光学中心间距的测定 低相干干涉测量法 | 现行 | 2024-05-28 | 2024-12-01 |
| GB/T 42257-2022 | 铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| T/ZSA 176-2023 | 光学电压测量装置 | 现行 | 2023-11-16 | 2023-11-17 |
| T/ZMDS 10022-2024 | 光学脊柱测量及姿态评估设备 | 现行 | 2024-12-30 | 2024-12-30 |
| T/CIES 025-2020 | LED植物光照产品的光学性能测量方法 | 现行 | 2020-05-15 | 2020-05-15 |
| GB/T 43690-2024 | 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法（外文版EN） | 现行 | 2024-12-31 |