SL/T 275-2014 相似标准 第9页
更新时间 2026-10-25| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
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| GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 41765-2022 | 碳化硅单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 39688-2020 | 陶瓷涂层密度的测试方法 | 现行 | 2020-12-14 | 2021-07-01 |
| GB/T 31057.1-2014 | 颗粒材料 物理性能测试 第1部分：松装密度的测量 | 现行 | 2014-12-22 | 2015-06-01 |
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| T/REIANM 0303-2022 | 烧结钕铁硼永磁合金粉 密度的测试方法：第2部分：振实密度的测定 | 现行 | 2022-07-04 | 2022-07-04 |
| T/REIANM 0302-2022 | 烧结钕铁硼永磁合金粉 密度的测试方法：第1部分：松装密度的测定 | 现行 | 2022-07-04 | 2022-07-04 |
| T/IAWBS 014-2021 | 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/SBX 028-2019 | TFT混合液晶密度测试方法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-02-01 |
| QB/T 1642-2012 | 陶瓷坯体显气孔率、体积密度测试方法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| QB/T 1642-1992 | 陶瓷坯体显气孔率、体积密度测试方法 | 废止 | 1993-01-15 | 1993-09-01 |
| JB/T 8261-1995 | 静电复印网线及密度不均匀性测试版A3 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| JB/T 8261-1999 | 静电复印网线及密度不均匀性测试版A3 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9141.1-1999 | 柔性石墨板材 密度测试方法 | 废止 | 1999-06-28 | 2000-01-01 |
| DB44/T 1555-2015 | 高密度印制电路板的互连应力测试方法 | 废止 | 2015-03-26 | 2015-06-26 |
| GB/T 8987-1988 | 缩微摄影技术 缩微摄影时检验负像光学密度用测试标板 | 废止 | 1988-04-11 | 1988-12-01 |