Polycrystalline silicon - examination method - zone - melting on phosphorus under controlled atomosphere
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
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| T/CNIA 0064-2020 | 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-08-01 | —— |
| T/CNIA 0060-2020 | 多晶硅用氢气中磷化氢含量的测定 气相色谱法 | 现行 | 2020-08-01 | —— |
| T/CBCSA 36-2021 | 晶刚玉多晶板材 | 现行 | 2021-07-30 | —— |
| T/ZZB 0061-2016 | 多晶硅铸锭炉 | 现行 | 0000-00-00 | —— |
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| T/CI 457-2024 | 电子级多晶硅用聚乙烯包装材料技术规范 | 现行 | 2024-08-15 | —— |
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