Horizontal bridgman grown gallium arsenide single crystal and cutting wafer
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 11094-2020 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 现行 | 2021-08-01 | 相似 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2008-02-01 | 相似 |
| GB/T 11093-2007 | 液封直拉法砷化镓单晶及切割片 | 现行 | 2008-02-01 | 相似 |
| GB/T 12965-2018 | 硅单晶切割片和研磨片 | 现行 | 2019-06-01 | 相似 |
| GB/T 11072-2009 | 锑化铟多晶、单晶及切割片 | 现行 | 2010-06-01 | 相似 |
| GB/T 29508-2013 | 300mm 硅单晶切割片和磨削片 | 现行 | 2014-02-01 | 相似 |
| GB/T 12965-2005 | 硅单晶切割片和研磨片 | 废止 | 2006-04-01 | 相似 |
| GB/T 26071-2010 | 太阳能电池用硅单晶切割片 | 废止 | 2011-10-01 | 相似 |
| GB/T 35305-2017 | 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片 | 废止 | 2018-07-01 | 相似 |
| GB/T 19199-2015 | 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 | 现行 | 2016-07-01 | 相似 |
| GB/T 20228-2021 | 砷化镓单晶 | 现行 | 2021-12-01 | 相似 |
| GB/T 17170-2015 | 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 | 现行 | 2016-07-01 | 相似 |
| GB/T 8760-2020 | 砷化镓单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-08-01 | 相似 |
| GB/T 25075-2010 | 太阳能电池用砷化镓单晶 | 废止 | 2011-04-01 | 相似 |
| GB/T 18032-2000 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | 现行 | 2000-09-01 | 相似 |
| GB/T 35305-2026 | 太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片 | 即将实施 | 2026-08-01 | 相似 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-10-01 | 相似 |
| GB/T 8760-2006 | 砷化镓单晶位错密度的测量方法 | 废止 | 2006-11-01 | 相似 |