Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 28632-2012 | 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 | 现行 | 2013-02-01 | 相似 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2008-03-01 | 相似 |
| GB/T 30702-2014 | 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 现行 | 2014-12-01 | 相似 |
| GB/T 29731-2013 | 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 | 现行 | 2014-06-01 | 相似 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-10-01 | 相似 |
| GB/T 29556-2013 | 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| GB/T 29558-2013 | 表面化学分析俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| GB/T 29732-2021 | 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准 | 现行 | 2022-07-01 | 相似 |
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2022-07-01 | 相似 |
| GB/T 25187-2024 | 表面化学分析俄歇电子能谱选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2025-06-01 | 相似 |
| GB/Z 32494-2016 | 表面化学分析俄歇电子能谱化学信息的解析 | 现行 | 相似 | |
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2017-09-01 | 相似 |
| GB/T 32565-2016 | 表面化学分析俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2017-01-01 | 相似 |
| GB/T 25187-2010 | 表面化学分析俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2011-08-01 | 相似 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2013-06-01 | 相似 |
| GB/T 29732-2013 | 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准 | 废止 | 2014-06-01 | 相似 |
| GB/T 36504-2018 | 印刷线路板表面污染物分析俄歇电子能谱 | 现行 | 2019-06-01 | 相似 |
| GB/T 26533-2011 | 俄歇电子能谱分析方法通则 | 现行 | 2011-12-01 | 相似 |