Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits--Products of digital switching system interface circuits
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 14027.7-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种数字交换系统接口电路系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.6-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.1-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.2-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.4-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.3-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14027.5-1992 | 半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种 | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 | 现行 | 1997-01-01 | 找相似 |
| GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路 模拟开关测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| GB/T 43226-2023 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 找相似 |
| GB/T 42838-2023 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 15651-1995 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 | 现行 | 1996-04-01 | 找相似 |
| GB/T 14119-1993 | 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 14113-1993 | 半导体集成电路封装术语 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 7509-1987 | 半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用) | 现行 | 1987-11-01 | 找相似 |
| GB/T 6648-1986 | 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1987-08-01 | 找相似 |
| GB/T 5965-2000 | 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范 | 现行 | 2000-07-01 | 找相似 |
| GB/T 17940-2000 | 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 | 现行 | 2000-07-01 | 找相似 |