Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | 现行 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 4376-1994 | 半导体集成电路电压调整器系列和品种 | 现行 | 1994-08-08 | 1995-04-01 |
| GB/T 35007-2018 | 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| GB/T 14114-1993 | 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| SJ/T 10076-1991 | 半导体集成电路CJ710型电压比较器 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10805-2018 | 半导体集成电路电压比较器测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| GB/T 4377-2018 | 半导体集成电路电压调整器测试方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| SJ/T 10255-1991 | 半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| SJ/T 10252-1991 | 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| SJ/T 10805-2000 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | 废止 | 2000-12-28 | 2001-03-01 |
| GB/T 12845-1991 | 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种 | 废止 | 1991-04-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 4377-1996 | 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 | 废止 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路 模拟开关测试方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| GB/T 43226-2023 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 42838-2023 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2023-12-01 |
| GB/T 15651-1995 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 14119-1993 | 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| GB/T 14113-1993 | 半导体集成电路封装术语 | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |