The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 25934.1-2010 | 高纯金化学分析方法 第1部分：乙酸乙脂萃取分离ICP-AES法 测定杂质元素的含量 | 现行 | 2011-09-01 | 找相似 |
| GB/T 25934.2-2010 | 高纯金化学分析方法 第2部分：ICP-MS-标准加入校正-内标法 测定杂质元素的含量 | 现行 | 2011-09-01 | 找相似 |
| SN/T 2081-2008 | 氧化铝中杂质元素含量的测定 微波溶样ICP-AES法 | 现行 | 2008-11-01 | 找相似 |
| SN/T 2698-2010 | 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2011-05-01 | 找相似 |
| GB/T 36590-2018 | 高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2019-06-01 | 找相似 |
| SN/T 1504.5-2017 | 食品容器、包装用塑料原料 第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 | 现行 | 2018-03-01 | 找相似 |
| GB/T 35418-2017 | 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2018-04-01 | 找相似 |
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| YS/T 365-2006 | 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析 | 现行 | 2006-12-01 | 找相似 |
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| YS/T 922-2013 | 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2014-03-01 | 找相似 |