| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| DB13/T 5537-2022 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定直流电压法 | 废止 | 2022-03-31 | 找相似 |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定直流电压法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| DB/T 29.1-2008 | 地震观测仪器进网技术要求 地电观测仪 第1部分：直流地电阻率仪 | 现行 | 2008-12-01 | 找相似 |
| GB/T 5654-2007 | 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 | 现行 | 2008-05-20 | 找相似 |
| DB/T 91-2022 | 直流地电阻率仪检测规范 | 现行 | 2023-05-01 | 找相似 |
| NB/T 10549-2021 | 采煤工作面底板注浆效果直流电阻率探测方法 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| GB/T 2951.51-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第51部分：填充膏专用试验方法 滴点 油分离 低温脆性 总酸值 腐蚀性 23℃时的介电常数 23℃和100℃时的直流电阻率 | 现行 | 2009-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-12-01 | 找相似 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-10-01 | 找相似 |
| T/SBX 070-2022 | 烷基联苯类液晶单体纯度的测定 气相色谱法 | 现行 | 2022-12-30 | —— |
| T/SBX 069-2022 | 烷基环己基联苯类液晶单体纯度的测定 气相色谱法 | 现行 | 2022-12-30 | —— |
| T/SBX 026-2019 | 液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |
| DB13/T 5223-2020 | 向列相热致液晶单体电压保持率的测定方法 | 废止 | 2020-10-18 | 找相似 |
| DB13/T 5222-2020 | 向列相热致液晶单体纯度的测定 气相色谱法 | 废止 | 2020-10-18 | 找相似 |
| T/SBX 038-2020 | 3，5-二氟-4-氰基苯酚酯类液晶单体纯度的测定 气相色谱法 | 现行 | 2020-12-22 | —— |
| T/SBX 039-2020 | 烷基联苯氰类液晶单体纯度的测定 | 现行 | 2020-12-22 | —— |
| T/SBX 026-2019 | 液晶单体熔点的测定 差示扫描量热法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |