| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| GB/T 39978-2021 | 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率四探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法四探针法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| DB13/T 5026.3-2019 | 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法 | 废止 | 2019-07-04 | 2019-08-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2004-09-21 | 2005-03-21 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-10-23 | 2022-11-23 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| YB/T 6166-2024 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 | 现行 | 2024-03-29 | 2024-10-01 |
| SJ/T 10315-1992 | 四探针探头通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| DB32/T 4027-2021 | 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法 | 现行 | 2021-05-14 | 2021-06-14 |
| DB13/T 5255-2020 | 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法 | 废止 | 2020-11-19 | 2020-12-19 |
| T/ZGIA 001-2019 | 石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法 | 现行 | 2019-12-16 | 2019-12-30 |
| T/ZGIA 001-2019 | 石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法 | 现行 | 2019-12-16 | 2019-12-30 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |