| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 38518-2020 | 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法 | 现行 | 2021-02-01 | 找相似 |
| GB/T 17722-1999 | 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 废止 | 1999-12-01 | 找相似 |
| GB/T 17722-2026 | 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 47182-2026 | 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-02-01 | —— |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SY/T 4107-2005 | 复合防腐涂层各层厚度破坏性测量方法 | 废止 | 2005-11-01 | 找相似 |
| JB/T 7503-1994 | 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 | 废止 | 1995-10-01 | 找相似 |
| YS/T 14-1991 | 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法 | 废止 | 1992-06-01 | 找相似 |
| JB/T 8270-1995 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 废止 | 1996-04-14 | 找相似 |
| GB/T 16921-1997 | 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法 | 废止 | 1998-02-01 | 找相似 |
| DB21/T 2078-2013 | 电线电缆通用试验方法 绝缘厚度的测量 [辽宁省] | 废止 | 2013-02-22 | 找相似 |
| T/GDWA 1-2021 | 柔性防水层厚度现场无损测量 超声波法 | 现行 | 2021-04-01 | —— |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-02-01 | —— |
| T/GDWA 1-2017 | 柔性防水层厚度现场无损测量 超声波法 | 现行 | 2017-05-16 | —— |
| JB/T 8270-1999 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 现行 | 2000-01-01 | 找相似 |