| EJ/T 1204.2-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量 | 现行 | 2007-05-01 | 相似 |
| EJ/T 1204.3-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分：忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量 | 现行 | 2007-05-01 | 相似 |
| EJ/T 1204.4-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第4部分：忽略样品处理影响的线性标度模拟率表测量 | 现行 | 2007-05-01 | 相似 |
| EJ/T 1204.1-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分：忽略样品处理影响的计数测量 | 现行 | 2007-05-01 | 相似 |
| GB/T 26168.4-2018 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第4部分：运行中老化的评定程序 | 现行 | 2019-01-01 | 相似 |
| GB/T 26168.2-2018 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第2部分：辐照和试验程序 | 现行 | 2019-01-01 | 相似 |
| GB/T 26168.1-2018 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第1部分：辐射相互作用和剂量测定 | 现行 | 2019-01-01 | 相似 |
| GB/T 26168.3-2010 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第3部分：辐射环境下应用的分级体系 | 现行 | 2011-07-01 | 相似 |
| GB/T 26168.2-2010 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第2部分：辐照和试验程序 | 废止 | 2011-07-01 | 相似 |
| GB/T 26168.1-2010 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第1部分：辐射相互作用和剂量测定 | 废止 | 2011-07-01 | 相似 |
| GB/T 26168.4-2010 | 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第4部分：运行中老化的评定程序 | 废止 | 2011-07-01 | 相似 |
| GB/T 4079-2025 | 用于电离辐射探测器的放大器和电荷灵敏前置放大器的测试方法 | 现行 | 2025-10-05 | 相似 |
| GB/T 4079-1994 | 用于电离辐射探测器的放大器和电荷灵敏前置放大器的测试方法 | 废止 | 1995-10-01 | 相似 |
| GB/Z 26209-2010 | 光辐射探测器光谱响应的确定方法 | 现行 | | 相似 |
| GB/T 7352-2008 | 利用电离辐射源的电测量系统和仪表 | 现行 | 2009-04-01 | 相似 |
| GB/T 19629-2005 | 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计 | 现行 | 2005-06-01 | 相似 |
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| GB/T 48025-2026 | 地基导航卫星遥感水汽和电离层探测系统 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |