Reliability of system and software - Part 3: Testing method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31379.3-2025 | 平板显示器偏光片测试方法 第3部分：可靠性 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| T/GDEIIA 12-2021 | 基于数字仿真的可靠性测试方法 第3部分：电子部件测试方法 | 现行 | 2021-11-13 | —— |
| T/GDEIIA 11-2021 | 基于数字仿真的可靠性测试方法 第2部分：机械部件测试方法 | 现行 | 2021-11-13 | —— |
| T/GDEIIA 10-2021 | 基于数字仿真的可靠性测试方法 第1部分：通用技术要求 | 现行 | 2021-11-13 | —— |
| YD/T 2578.1-2013 | LTE FDD数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法（第一阶段） 第1部分：基本功能、业务和可靠性测试 | 现行 | 2013-07-22 | 找相似 |
| T/CAB 0076-2020 | 智能家电物联网性能测试方法 第2部分：无线通讯可靠性 | 现行 | 2020-12-26 | —— |
| YD/T 2576.1-2013 | TD-LTE数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法（第一阶段） 第1部分：基本功能、业务和可靠性测试 | 现行 | 2013-07-22 | 找相似 |
| T/CAB 0076-2020 | 智能家电物联网性能测试方法 第2部分：无线通讯可靠性 | 现行 | 2020-12-26 | —— |
| T/ZJBDT 001.4-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第4部分：阻变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | —— |
| T/ZJBDT 001.3-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第3部分：相变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | —— |
| T/ZJBDT 001.2-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第2部分：磁随机存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | —— |
| T/ZJBDT 001.1-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第1部分：总则 | 现行 | 2025-01-10 | —— |
| YD/T 4516-2023 | 车载信息通信终端环境可靠性技术要求和测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| YD/T 4110-2022 | 面向行业终端的5G通用模组可靠性技术要求及测试方法 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| GB/T 46367-2025 | 移动通信终端可靠性技术要求和测试方法 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| GB/T 39006-2020 | 工业机器人特殊气候环境可靠性要求和测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| YD/T 2175-2010 | 公众IP网络可靠性 标记分发协议(LDP)平滑重启动技术要求及测试方法 | 现行 | 2011-01-01 | 找相似 |
| GB/T 39266-2020 | 工业机器人机械环境可靠性要求和测试方法 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |