| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 38944-2020 | 无损检测中子小角散射检测方法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| GB/T 38944-2020 | 无损检测中子小角散射检测方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-01-01 |
| GB/T 40307-2021 | 无损检测 材料织构的中子检测方法（外文版EN） | 现行 | 2024-12-31 | |
| GB/T 34641-2017 | 无损检测 直接热中子照相检测的像质测定方法 | 现行 | 2017-09-29 | 2018-04-01 |
| GB/T 26140-2023 | 无损检测 残余应力测量的中子衍射方法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-05-23 |
| GB/T 40307-2021 | 无损检测 材料织构的中子检测方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 26140-2010 | 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法 | 废止 | 2011-01-14 | 2011-10-01 |
| GB/T 12604.8-2014 | 无损检测 术语 中子检测 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-12-01 |
| GB/T 31363-2015 | 无损检测 热中子照相检测 总则和基本规则 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-10-01 |
| GB/T 31362-2015 | 无损检测 热中子照相检测中子束L/D比的测定 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-10-01 |
| GB/T 12604.8-1995 | 无损检测术语 中子检测 | 废止 | 1995-12-20 | 1996-08-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB 15208.5-2018 | 微剂量X射线安全检查设备 第5部分：背散射物品安全检查设备（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| GB/T 38431-2019 | 颗粒 分散体系稳定性评价 静态多重光散射法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| GB/T 41805-2022 | 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| AQ/T 4268-2015 | 工作场所空气中粉尘浓度快速检测方法——光散射法 | 废止 | 2015-03-06 | 2015-09-25 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |