A weak static magnetic field imaging method based on scanning nitrogen-vacancy probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4930-2021 | 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 20725-2025 | 微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| SJ/T 10314-1992 | 直流四探针电阻率测试通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| SJ/T 10315-1992 | 四探针探头通用技术条件 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |
| GB/T 15246-2022 | 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| DB42/T 1864.2-2022 | 家禽疫病诊断技术规程 第2部分：禽大肠杆菌致病群双重探针法检测 | 现行 | 2022-05-26 | 2022-07-26 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| DB51/T 3207-2024 | 集成电路测试用微波探针应用规范 | 现行 | 2024-12-03 | 2024-12-29 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 15074-2025 | 电子探针定量分析方法通则 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 17360-2020 | 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-05-01 |
| GB/T 28630.1-2012 | 白斑综合征(WSD)诊断规程 第1部分：核酸探针斑点杂交检测法 | 现行 | 2012-07-31 | 2012-11-01 |
| GB/T 15616-2008 | 金属及合金的电子探针定量分析方法 | 现行 | 2008-08-20 | 2009-04-01 |
| DB32/T 4027-2021 | 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法 | 现行 | 2021-05-14 | 2021-06-14 |
| GB/T 15617-2025 | 微束分析 电子探针显微分析 硅酸盐矿物的定量分析 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 39978-2021 | 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| T/ZZB 3888-2024 | 半导体芯片测试用探针头 | 现行 | 2024-12-06 | 2024-12-06 |