集成电路测试用微波探针应用规范

DB51/T 3207-2024 四川省

现行

标准状态

发布日期

2024-12-03

实施日期

2024-12-29

基础信息

标准号

DB51/T 3207-2024

批准发布部门

四川省市场监督管理局

技术归口

四川省经济和信息化厅

制修订

制定

标准分类

中国标准分类号

L86

国际标准分类号

17.220

行业分类

制造业

标准类别

方法标准

标准分类

四川省

标准层级

地方标准

备案信息

备案号

118742-2024

备案日期

2024-12-26

适用范围

本文件规定了集成电路测试用微波探针(以下简称“探针”)的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。

起草单位

中国电子科技集团公司第九研究所

起草人

刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪

专题

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