Microbeam analysis—Volume electron microscopy—FIB-SEM imaging method for 3D-structure of biological samples
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00162-2020 | 透射电子显微镜校准方法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| GB/T 34831-2017 | 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| JJF 1916-2021 | 扫描电子显微镜校准规范 | 现行 | 2021-07-28 | 2022-01-28 |
| JB/T 5584-1991 | 透射电子显微镜放大率测试方法 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| JB/T 6842-1993 | 扫描电子显微镜 试验方法 | 废止 | 1993-07-09 | 1994-01-01 |
| JB/T 5481-1991 | 电子显微镜用灯丝 | 废止 | 1991-07-15 | 1992-07-01 |
| JB/T 5383-1991 | 透射电子显微镜 技术条件 | 废止 | 1991-07-10 | 1992-07-01 |
| JB/T 5586-1991 | 透射电子显微镜分类和基本参数 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| JB/T 5480-1991 | 电子显微镜用光阑 | 废止 | 1991-07-15 | 1992-07-01 |
| JB/T 5384-1991 | 扫描电子显微镜 技术条件 | 废止 | 1991-07-10 | 1992-07-01 |
| JB/T 5585-1991 | 透射电子显微镜分辩力测试方法 | 废止 | 1991-07-16 | 1992-07-01 |
| GB 7667-2003 | 电子显微镜X射线泄漏剂量 | 废止 | 2003-11-20 | 2004-05-01 |
| DB31/T 297-2003 | 扫描电子显微镜放大倍率校准方法 | 废止 | 2003-10-28 | 2004-01-01 |
| DB31/T 315-2004 | 透射电子显微镜放大倍率校准方法 | 废止 | 2004-05-18 | 2004-08-01 |
| DB44/T 1215-2013 | 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性 | 废止 | 2013-12-06 | 2014-03-06 |
| DB44/T 1216-2013 | 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性 | 废止 | 2013-12-06 | 2014-03-06 |
| T/CSTM 00162-2020 | 透射电子显微镜校准方法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| T/CSTM 00166.3-2020 | 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |