| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/HATSI 0004-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 氧化铝流延陶瓷基片 | 现行 | 2020-07-30 | —— |
| T/ICMTIA CM0033-2023 | 集成电路用氧化铝陶瓷制品 | 现行 | 2023-04-30 | —— |
| JB/T 8736-1998 | 电力半导体模块用氮化铝陶瓷基片 | 现行 | 1998-11-01 | 找相似 |
| GB/T 39975-2021 | 氮化铝陶瓷散热基片 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 47610-2026 | 氮化铝陶瓷粉体 | 即将实施 | 2026-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 12006-2025 | 功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化铝陶瓷覆铜基板 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 11136-1997 | 电子陶瓷二氧化锆材料 | 现行 | 1998-01-01 | 找相似 |
| SJ/T 10551-1994 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 10552-1994 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 10553-1994 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 10553-2021 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 10552-2021 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 10551-2021 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |
| HJ 473-2009 | 清洁生产标准 氧化铝业 | 现行 | 2009-10-01 | 找相似 |
| GB/T 26824-2020 | 纳米氧化铝 | 现行 | 2021-07-01 | 找相似 |
| GB/T 6609.9-2004 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 新亚铜灵光度法测定氧化铜含量 | 现行 | 2004-07-01 | 找相似 |
| SN/T 2044-2008 | 纳米氧化铝检验规程 | 现行 | 2008-11-01 | 找相似 |
| GB/T 6609.21-2004 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 丁基罗丹明B分光光度法测定三氧化二镓含量 | 现行 | 2004-07-01 | 找相似 |