Inorganic chemicals for industrial use—Determination of impurity ions—Ion chromatography method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SN/T 3363-2012 | 铅锭中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2012-12-12 | 2013-07-01 |
| SN/T 2619-2010 | 金属铬中铝、锑、砷、铋、铜、铁、铅、硅、锡杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2010-05-27 | 2010-12-01 |
| SN/T 3796-2014 | 滑石粉中酸溶杂质元素（铅、镉、铬、砷、汞、铜、锌、锰、镍、钴）的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2014-01-13 | 2014-08-01 |
| GB/T 14849.4-2014 | 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2014-12-05 | 2015-08-01 |
| GB/T 12690.13-2003 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 钼、钨量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2003-11-18 | 2004-06-01 |
| GB/T 41153-2021 | 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 12690.20-2024 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第20部分：稀土氧化物中微量氟、氯的测定离子色谱法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| GB/T 7196-2012 | 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 26416.2-2022 | 稀土铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 12690.16-2010 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第16部分：氟量的测定离子选择性电极法 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-11-01 |
| GB/T 35418-2017 | 纳米技术 碳纳米管中杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-04-01 |
| YS/T 34.1-2011 | 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 742-2010 | 氧化镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| YS/T 870-2020 | 纯铝化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| YB/T 4590-2017 | 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| JC/T 2027-2010 | 高纯石英中杂质含量的测定方法会 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| JC/T 2133-2012 | 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| YY/T 1507.2-2016 | 外科植入物用超高分子量聚乙烯粉料中杂质元素的测定 第2部分：离子色谱法测定氯（Cl）元素含量 | 现行 | 2016-07-29 | 2017-06-01 |