Determination of impurity content in trichlorosilane for silicon epitaxy—Inductively coupled plasma mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1496-2021 | 钯化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| YS/T 1497-2021 | 铂化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| YS/T 1494-2021 | 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| YS/T 1261-2018 | 铪化学分析方法 杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| YS/T 1164-2016 | 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| SJ/T 11011-2015 | 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SH/T 1782-2015 | 工业用异戊二烯纯度和烃类杂质含量的测定 气相色谱法 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| SH/T 1786-2015 | 工业用异戊烯纯度和烃类杂质含量的测定 气相色谱法 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| GB/T 6150.11-2026 | 钨精矿化学分析方法 第11部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| XB/T 616.2-2012 | 钆铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| XB/T 614.5-2011 | 钆镁合金化学分析方法 第5部分：稀土杂质含量的测定 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| XB/T 621.2-2016 | 钬铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| YS/T 1012-2014 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| YS/T 1011-2014 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| JB/T 10986-2010 | 超硬磨料 人造金刚石杂质含量检验方法 | 废止 | 2010-02-21 | 2010-07-01 |
| YS/T 244.9-2008 | 高纯铝化学分析方法 第9部分：电感耦合等离子体质谱法测定杂质含量 | 废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| SH/T 1497-2002 | 工业用叔丁醇含量及杂质的测定（气相色谱法） | 废止 | 2002-05-31 | 2002-07-01 |
| SN/T 2047-2008 | 进口铜精矿中杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 废止 | 2008-04-29 | 2008-11-01 |