Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| WS/T 117-1999 | X、γ、β射线和电子束所致晶体剂量估算规范 | 现行 | 1999-01-21 | 1999-07-01 |
| T/SAS 0003-2018 | 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体 | 现行 | 2018-12-20 | 2019-01-01 |
| GB/T 48170-2026 | 用于功率转化的氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）动态导通电阻测试方法指南 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-09-29 | 2020-12-01 |
| GB/T 42518-2023 | 锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 5832.4-2020 | 气体分析 微量水分的测定 第4部分：石英晶体振荡法 | 现行 | 2020-11-19 | 2021-10-01 |
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| GB/T 42518-2023 | 锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法（外文版EN） | 现行 | 2024-09-02 | |
| GB/T 11113-1989 | 人造石英晶体中杂质的分析方法 | 废止 | 1989-03-31 | 1990-03-01 |
| GB/T 29507-2013 | 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 40913-2021 | 玻璃瓶罐热端涂层厚度的测定方法 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 22520-2008 | 厚度指示表 | 现行 | 2008-11-12 | 2009-05-01 |
| DB11/T 365-2016 | 钢筋保护层厚度和钢筋直径检测技术规程 | 现行 | 2016-10-20 | 2017-02-01 |
| TY/T2003.2-2021 | 运动面层性能测试方法 第2部分：厚度 | 现行 | 2021-07-08 | 2022-01-01 |
| GB/T 11374-2012 | 热喷涂涂层厚度的无损测量方法 | 现行 | 2012-09-03 | 2013-03-01 |
| GB/T 13744-1992 | 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量 | 现行 | 1992-11-04 | 1993-08-01 |
| DB41/T 2781-2024 | 公路大厚度水泥稳定碎石基层施工技术规程 | 现行 | 2024-11-07 | 2025-02-06 |