Test methods for dielectric properties of microwave dielectric ceramics—Open cavity method and closed cavity method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YD/T 744-2009 | 准同步数字系列（PDH）数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| GB/T 35002-2018 | 微波电路 频率源测试方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-08-01 |
| GB/T 42744-2023 | 微波电路 电调衰减器测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 44766-2024 | 微波电路 限幅器测试方法 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| T/CASAS 029-2023 | Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-07-01 |
| T/CSTM 00989-2023 | 微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-07-21 |
| YD/T 2529-2013 | SDH数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 2742-2014 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2014-10-14 |
| GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| YD/T 2528-2013 | 扩频数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 508-2025 | 微波通信系统抛物面天线技术要求和测试方法 | 现行 | 2025-12-17 | 2026-04-01 |
| T/CECA-G 0276-2023 | 家用和类似用途微波炉能效测试及表征方法 | 现行 | 2023-12-22 | 2023-12-25 |
| YD/T 2742-2026 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 5594.2-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| SN/T 5315-2021 | 光催化自洁陶瓷性能测试方法 荧光探针法 | 现行 | 2021-11-22 | 2022-06-01 |
| GB/T 15750-2008 | 压电陶瓷材料性能测试方法 老化性能的测试 | 现行 | 2008-10-20 | 2009-04-01 |
| GB/T 5594.7-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| SN/T 3253.3-2016 | 卫生陶瓷性能检测方法 第3部分：冲洗最大功能测试方法 | 现行 | 2016-06-28 | 2017-02-01 |