| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| JB/T 10376-2013 | 碳化硅特种制品 氧化硅结合碳化硅板 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| SN/T 0829-1999 | 出口镁砂中的氧化镁、氧化硅、氧化钙、氧化铁、氧化铝、氧化锰、氧化钛的测定方法 | 现行 | 1999-12-30 | 2000-05-01 |
| GB/T 46381-2025 | 集成电路封装用低放射性球形氧化硅微粉 | 现行 | 2025-10-31 | 2026-02-01 |
| JB/T 10376-2002 | 碳化硅特种制品 氧化硅结合碳化硅板 | 废止 | 2002-12-27 | 2003-04-01 |
| GB/T 28957.1-2012 | 道路车辆 用于滤清器评定的试验粉尘 第1部分：氧化硅试验粉尘 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-07-01 |
| GB/T 28957.1-2023 | 道路车辆 用于滤清器评定的试验粉尘 第1部分：氧化硅试验粉尘 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-08-01 |
| JC/T 2982-2026 | 氧化硅陶瓷空心微珠 | 即将实施 | 2026-04-16 | 2026-11-01 |