| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20229-2006 | 磷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 8760-2006 | 砷化镓单晶位错密度的测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 5252-2006 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 22452-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用技术条件 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30656-2014 | 碳化硅单晶抛光片 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| DB35/T 1118-2011 | 抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件 | 废止 | 2011-03-07 | 2011-06-01 |
| GB/T 11297.6-1989 | 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/CISA 086-2021 | DD405单晶高温合金母合金 | 现行 | 2021-02-18 | 2021-03-01 |
| T/STSI 7-2020 | 建筑用光伏组件 U型单晶件通用技术要求 | 现行 | 2020-12-25 | 2020-12-25 |