| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 11093-2007 | 液封直拉法砷化镓单晶及切割片 | 现行 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 11072-2009 | 锑化铟多晶、单晶及切割片 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 20229-2022 | 磷化镓单晶 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 41751-2022 | 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| GB/T 17170-2015 | 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| DZ/T 0294-2016 | 化学气相沉积法合成无色单晶钻石 筛查和鉴定 | 现行 | 2016-02-22 | 2016-05-01 |
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11864-2022 | 半绝缘型碳化硅单晶衬底 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11207-1999 | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| GB/T 32188-2015 | 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 5238-2019 | 锗单晶和锗单晶片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 5252-2020 | 锗单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-05-01 |
| JB/T 5203-2023 | 单晶刚玉化学分析方法 | 现行 | 2023-12-29 | 2024-07-01 |
| JC/T 2343-2015 | 导模法制备单晶三氧化二铝管 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |