| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32282-2015 | 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 11094-2020 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 现行 | 2020-09-29 | 2021-08-01 |
| GB/T 35305-2017 | 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片 | 废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-09-29 | 2020-12-01 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 19199-2015 | 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 29421-2012 | 钒酸盐双折射光学单晶元件 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-08-01 |
| GB/T 20228-2021 | 砷化镓单晶 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 26072-2010 | 太阳能电池用锗单晶 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 41153-2021 | 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 26044-2010 | 信号传输用单晶圆铜线及其线坯 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 22452-2025 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 9532-2012 | 压电单晶材料型号命名方法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |