| DB53/T 1412-2025 | 缺陷消费品档案管理工作规范 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-08-09 |
| GB/T 4823-2013 | 锯材缺陷 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-11 |
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
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| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 15757-2002 | 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数 | 现行 | 2002-07-15 | 2003-01-01 |
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| GB/T 30789.1-2015 | 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第1部分：总则和标识体系 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-01-01 |
| GB/T 30789.4-2015 | 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第4部分：开裂等级的评定 | 现行 | 2015-07-03 | 2016-02-01 |
| GB/T 11346-2018 | 铝合金铸件射线照相检测 缺陷分级 | 现行 | 2018-07-13 | 2018-08-01 |