主要技术内容
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法,包括原理、环境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。频率测试范围:f=25 GHz~110 GHz ;介电常数测试范围:ε_r^'=2.0~20.0;损耗角正切值测试范围:tan?〖δ_ε 〗?〖=1.0×10^(-4)~1.0×10^(-2) 〗;温度测试范围:-65 ℃~125 ℃。
Test method for dielectric constant and dielectric loss tangent in millimeter wave frequency range — Quasi-optical cavity method
现行
2023-04-07
2023-07-07
T/CSTM 00990-2023
中关村材料试验技术联盟
否
L30
31.180
C398 电子元件及电子专用材料制造
团体标准
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法,包括原理、环境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。 本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。 频率测试范围:f=25 GHz~110 GHz ; 介电常数测试范围:ε_r^'=2.0~20.0; 损耗角正切值测试范围:tan?〖δ_ε 〗?〖=1.0×10^(-4)~1.0×10^(-2) 〗; 温度测试范围:-65 ℃~125 ℃。
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法,包括原理、环境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。频率测试范围:f=25 GHz~110 GHz ;介电常数测试范围:ε_r^'=2.0~20.0;损耗角正切值测试范围:tan?〖δ_ε 〗?〖=1.0×10^(-4)~1.0×10^(-2) 〗;温度测试范围:-65 ℃~125 ℃。
工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、中兴通讯股份有限公司、成都恩驰微波科技有限公司、广东生益科技股份有限公司、浙江华正新材料股份有限公司
何骁,肖美珍,陈泽坚,余承勇,宁敏洁,朱辉,方贵练,方树森,王峰,聂富刚,高冲,董辉,任英杰,卢悦群,刘潜发,葛鹰,孙朝宁,李恩,贺光辉,罗道军
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 3048.11-2025 | 电线电缆电性能试验方法 第11部分:介质损耗角正切试验 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 11297.9-2015 | 热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法 | 现行 | 2015-12-31 | 2016-07-01 |
| GB/T 3048.11-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第11部分:介质损耗角正切试验 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-01 |
| HG/T 2617-1994 | 片基正切值测定方法 | 现行 | 1994-04-13 | 1995-01-01 |
| GB/T 43801-2024 | 微波频段覆铜箔层压板相对介电常数和损耗正切值测试方法 分离介质谐振器法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| JB/T 8957-1999 | 校验电容器损耗角正切测量准确度的方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 3334-1999 | 电缆纸介质损耗角正切(tgδ)试验方法(电桥法) | 现行 | 1999-08-12 | 2000-02-01 |
| GB/T 1693-2007 | 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 | 现行 | 2007-05-14 | 2007-10-01 |
| T/CSTM 00991-2023 | 高速印制板用涂/镀层测试方法 | 现行 | 2023-04-07 | 2023-07-07 |
| T/CSTM 00986-2023 | 高频介质基板的复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法 | 现行 | 2023-04-07 | 2023-07-07 |