混合信号半导体器件测试设备

Mixed signal semiconductor device test equipment

T/ZACA 041-2022制造业

现行

更新日期:2026-09-12

标准状态

发布日期

2022-06-28

实施日期

2022-07-01

基础信息

标准号

T/ZACA 041-2022

包含专利

否

标准分类

中国标准分类号

L87

国际标准分类号

17.040.30 测量仪器仪表

标准层级

团体标准

适用范围

本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。

主要技术内容

本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。

起草单位

杭州加速科技有限公司,通富微电子股份有限公司、华天科技(西安)有限公司、长三角集成电路工业应用技术创新中心、矽力杰半导体技术(杭州)有限公司、北京集创北方科技股份有限公司

起草人

陈永、凌云、邬刚、王瑞金、翁正林

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